這篇文章給大家聊聊關(guān)于半導(dǎo)體Ct設(shè)備是干什么的，以及數(shù)字電子技術(shù)是門什么學(xué)科對應(yīng)的知識點，希望對各位有所幫助，不要忘了收藏本站哦。

本文目錄

1. 數(shù)字電子技術(shù)是門什么學(xué)科
2. 高壓開關(guān)的局放是干什么用的
3. 誰能介紹半導(dǎo)體二極管參數(shù)符號 CT- Cj的意思

一、數(shù)字電子技術(shù)是門什么學(xué)科

《數(shù)字電子技術(shù)》這門課程屬于專業(yè)基礎(chǔ)課，在電子信息工程專業(yè)的知識體系中占有重要的地位。

數(shù)字電子技術(shù)主要研究各種邏輯門電路、集成器件的功能及其應(yīng)用，邏輯門電路組合和時序電路的分析和設(shè)計、集成芯片各腳功能。

隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，對應(yīng)用電子技術(shù)專業(yè)人才的需求不斷增加，這些年來，依托院校、科研院所和企業(yè)培養(yǎng)了一批應(yīng)用電子技術(shù)專業(yè)人才，但與我國信息產(chǎn)業(yè)發(fā)展需求相比，仍有很大缺口。在當(dāng)今社會中，職場相互競爭殘忍，沒有一種技能，沒有學(xué)歷證書，就算你說破天沒用，證書就像敲門磚，是暢行無阻在職場遨游的鑰匙，也是和你的薪資息息相關(guān)，也是價值體現(xiàn)的基石。

擴展資料：

數(shù)字系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于通信、計算機、自動控制、互聯(lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)等領(lǐng)域，數(shù)字系統(tǒng)與我們的日常生活也密切相關(guān)，例如，智能手機、數(shù)字電視、數(shù)碼相機、醫(yī)用心電圖儀、CT儀器設(shè)備等都是數(shù)字技術(shù)的應(yīng)用實例。

現(xiàn)代的數(shù)字電路由半導(dǎo)體工藝制成的若干數(shù)字集成器件構(gòu)造而成。邏輯門是數(shù)字邏輯電路的基本單元。存儲器是用來存儲二進(jìn)制數(shù)據(jù)的數(shù)字電路。從整體上看，數(shù)字電路可以分為組合邏輯電路和時序邏輯電路兩大類。

參考資料來源：

百度百科-數(shù)字電子技術(shù)

二、高壓開關(guān)的局放是干什么用的

高壓開關(guān)的局放是干什么用的

什么是局部放電

局部放電(局放)是由高中壓早期絕緣故障產(chǎn)生的，目前被廣泛的認(rèn)為是絕緣程度下降的最好的早期標(biāo)志，為絕緣失敗提供預(yù)警。這使得中高壓電站廠商有機會為防止絕緣失敗而引起災(zāi)難性故障或爆炸事故的發(fā)生而采取改正性或預(yù)防性措施。局放行為會逐漸地?fù)p害高中壓電纜及設(shè)備的絕緣介質(zhì)，并最終導(dǎo)致絕緣失敗。

局部放電活動會導(dǎo)致中高壓設(shè)備絕緣狀況的惡化，如果不進(jìn)行檢測或維護(hù)會造成設(shè)備故障的發(fā)生。很多情況下事故發(fā)生在切換操作后，這給操作人員的人身安全帶了很大的隱患。局部放電(局放)是由高中壓早期絕緣故障產(chǎn)生的，目前被廣泛的認(rèn)為是絕緣程度下降的最好的早期標(biāo)志，為絕緣失敗提供預(yù)警。這使得中高壓電站廠商有機會為防止絕緣失敗而引起災(zāi)難性故障或爆炸事故的發(fā)生而采取改正性或預(yù)防性措施。局放行為會逐漸地?fù)p害高中壓電纜及設(shè)備的絕緣介質(zhì)，并最終導(dǎo)致絕緣失敗。目前對中壓開關(guān)柜類設(shè)備進(jìn)行的日常巡檢主要還是判斷有無異常的聲音和氣味，以及對設(shè)備的外觀狀況的觀察。很主觀也不科學(xué)，對設(shè)備的運行狀態(tài)和絕緣狀況不能做出及時準(zhǔn)確的評估。所以使用準(zhǔn)確可靠的局部放電檢測儀器進(jìn)行中高壓開關(guān)的狀態(tài)診斷和評估是很重要的，這類儀器在歐美等發(fā)達(dá)國家已經(jīng)應(yīng)用了很多年，國內(nèi)在近幾年也得到了越來越多的應(yīng)用和發(fā)展。

便攜式及在線監(jiān)測產(chǎn)品，是全球首款融合三種測試技術(shù):超聲波，高頻CT,以及TEV測試技術(shù)的產(chǎn)品，設(shè)備操做簡單，輕便小巧。可便捷快速對開關(guān)柜及電纜等電器設(shè)備進(jìn)行在線監(jiān)測確定局放量及位置。局部放電原理及電磁放電(TEV)的優(yōu)點和應(yīng)用局部放電是指電氣設(shè)備絕緣結(jié)構(gòu)中某個區(qū)域內(nèi)出現(xiàn)的放電現(xiàn)象，這種放電只是絕緣結(jié)構(gòu)在該區(qū)域內(nèi)被破壞，主絕緣并未發(fā)生貫穿性擊穿，但若局部放電長期存在，在一定條件下可造成設(shè)備主絕緣電氣強度的下降和損壞。絕緣結(jié)構(gòu)中若存在局部電場較高(場強分布不均)，或制造工藝不完善、運行中絕緣有機物分解、固體絕緣受機械力作用發(fā)生開裂等原因形成缺陷，運行中的這些部位就容易出現(xiàn)絕緣擊穿、發(fā)生局部放電。此外在金屬導(dǎo)體(或半導(dǎo)體)電極的尖銳邊緣處，或具有不同特性的絕緣層間，也是局部放電容易發(fā)生的部位。局部放電雖然只是絕緣局部發(fā)生擊穿，但每次放電對絕緣都會有輕微損傷。

造成損傷的原因有：介質(zhì)局部溫度上升，氧化加速，使介質(zhì)的電器、機械性能下降;帶電粒子撞擊介質(zhì)，切斷分子結(jié)構(gòu);放電作用下產(chǎn)生的活性氣體與介質(zhì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，使介質(zhì)性能變壞。為保證電氣設(shè)備在運行中的可靠性，不允許在其絕緣中有局部放電，或只允許有輕微的局部放電。局部放電屬于不會使電極完全短接起來的電氣放電。這種放電的幅值通常都很小。但它可以致使絕緣層性能不斷地下降，并導(dǎo)致最終的故障發(fā)生。非侵入式局部放電檢測提供了既快速又簡單的方法，用于識別可能會引起停電或造成人員傷害的潛在絕緣故障。局部放電會以下述的方式放射能量：電磁能量：無線電波、光、熱。聲能：聲波、超聲波。氣體：臭氧、氮氧化物。非侵入式局部放電檢測最實用的技術(shù)就是基于檢測電磁頻譜中的無線電頻率部分以及超聲波發(fā)射信號。

三、誰能介紹半導(dǎo)體二極管參數(shù)符號 CT- Cj的意思

半導(dǎo)體二極管參數(shù)符號

CT-勢壘電容

Cj-結(jié)（極間）電容，表示在二極管兩端加規(guī)定偏壓下，鍺檢波二極管的總電容

Cjv-偏壓結(jié)電容

Co-零偏壓電容

Cjo-零偏壓結(jié)電容

Cjo/Cjn-結(jié)電容變化

Cs-管殼電容或封裝電容

Ct-總電容

CTV-電壓溫度系數(shù)。在測試電流下，穩(wěn)定電壓的相對變化與環(huán)境溫度的絕對變化之比

CTC-電容溫度系數(shù)

Cvn-標(biāo)稱電容

IF-正向直流電流（正向測試電流）。

鍺檢波二極管在規(guī)定的正向電壓VF下，通過極間的電流；硅整流管、硅堆在規(guī)定的使用條件下，在正弦半波中允許連續(xù)通過的最大工作電流（平均值），硅開關(guān)二極管在額定功率下允許通過的最大正向直流電流；測穩(wěn)壓二極管正向電參數(shù)時給定的電流

IF（AV）-正向平均電流

IFM（IM）-正向峰值電流（正向最大電流）。在額定功率下，允許通過二極管的最大正向脈沖電流。發(fā)光二極管極限電流。

IH-恒定電流、維持電流。

Ii-發(fā)光二極管起輝電流

IFRM-正向重復(fù)峰值電流

IFSM-正向不重復(fù)峰值電流（浪涌電流）

Io-整流電流。在特定線路中規(guī)定頻率和規(guī)定電壓條件下所通過的工作電流

IF(ov)-正向過載電流

IL-光電流或穩(wěn)流二極管極限電流

ID-暗電流

IB2-單結(jié)晶體管中的基極調(diào)制電流

IEM-發(fā)射極峰值電流

IEB10-雙基極單結(jié)晶體管中發(fā)射極與第一基極間反向電流

IEB20-雙基極單結(jié)晶體管中發(fā)射極向電流

ICM-最大輸出平均電流

IFMP-正向脈沖電流

IP-峰點電流

IV-谷點電流

IGT-晶閘管控制極觸發(fā)電流

IGD-晶閘管控制極不觸發(fā)電流

IGFM-控制極正向峰值電流

IR（AV）-反向平均電流

IR（In）-反向直流電流（反向漏電流）。在測反向特性時，給定的反向電流；硅堆在正弦半波電阻性負(fù)載電路中，加反向電壓規(guī)定值時，所通過的電流；硅開關(guān)二極管兩端加反向工作電壓VR時所通過的電流；穩(wěn)壓二極管在反向電壓下，產(chǎn)生的漏電流；整流管在正弦半波最高反向工作電壓下的漏電流。

IRM-反向峰值電流

IRR-晶閘管反向重復(fù)平均電流

IDR-晶閘管斷態(tài)平均重復(fù)電流

IRRM-反向重復(fù)峰值電流

IRSM-反向不重復(fù)峰值電流（反向浪涌電流）

Irp-反向恢復(fù)電流

Iz-穩(wěn)定電壓電流（反向測試電流）。測試反向電參數(shù)時，給定的反向電流

Izk-穩(wěn)壓管膝點電流

IOM-最大正向（整流）電流。在規(guī)定條件下，能承受的正向最大瞬時電流；在電阻性負(fù)荷的正弦半波整流電路中允許連續(xù)通過鍺檢波二極管的最大工作電流

IZSM-穩(wěn)壓二極管浪涌電流

IZM-最大穩(wěn)壓電流。在最大耗散功率下穩(wěn)壓二極管允許通過的電流

iF-正向總瞬時電流

iR-反向總瞬時電流

ir-反向恢復(fù)電流

Iop-工作電流

Is-穩(wěn)流二極管穩(wěn)定電流

f-頻率

n-電容變化指數(shù)；電容比

Q-優(yōu)值（品質(zhì)因素）

δvz-穩(wěn)壓管電壓漂移

di/dt-通態(tài)電流臨界上升率

dv/dt-通態(tài)電壓臨界上升率

PB-承受脈沖燒毀功率

PFT（AV）-正向?qū)ㄆ骄纳⒐β?/p>

PFTM-正向峰值耗散功率

PFT-正向?qū)偹矔r耗散功率

Pd-耗散功率

PG-門極平均功率

PGM-門極峰值功率

PC-控制極平均功率或集電極耗散功率

Pi-輸入功率

PK-最大開關(guān)功率

PM-額定功率。硅二極管結(jié)溫不高于150度所能承受的最大功率

PMP-最大漏過脈沖功率

PMS-最大承受脈沖功率

Po-輸出功率

PR-反向浪涌功率

Ptot-總耗散功率

Pomax-最大輸出功率

Psc-連續(xù)輸出功率

PSM-不重復(fù)浪涌功率

PZM-最大耗散功率。在給定使用條件下，穩(wěn)壓二極管允許承受的最大功率

RF（r）-正向微分電阻。在正向?qū)〞r，電流隨電壓指數(shù)的增加，呈現(xiàn)明顯的非線性特性。在某一正向電壓下，電壓增加微小量△V，正向電流相應(yīng)增加△I，則△V/△I稱微分電阻

RBB-雙基極晶體管的基極間電阻

RE-射頻電阻

RL-負(fù)載電阻

Rs(rs)-串聯(lián)電阻

Rth-熱阻

R(th)ja-結(jié)到環(huán)境的熱阻

Rz(ru)-動態(tài)電阻

R(th)jc-結(jié)到殼的熱阻

rδ-衰減電阻

r(th)-瞬態(tài)電阻

Ta-環(huán)境溫度

Tc-殼溫

td-延遲時間

tf-下降時間

tfr-正向恢復(fù)時間

tg-電路換向關(guān)斷時間

tgt-門極控制極開通時間

Tj-結(jié)溫

Tjm-最高結(jié)溫

ton-開通時間

toff-關(guān)斷時間

tr-上升時間

trr-反向恢復(fù)時間

ts-存儲時間

tstg-溫度補償二極管的貯成溫度

a-溫度系數(shù)

λp-發(fā)光峰值波長

△λ-光譜半寬度

η-單結(jié)晶體管分壓比或效率

VB-反向峰值擊穿電壓

Vc-整流輸入電壓

VB2B1-基極間電壓

VBE10-發(fā)射極與第一基極反向電壓

VEB-飽和壓降

VFM-最大正向壓降（正向峰值電壓）

VF-正向壓降（正向直流電壓）

△VF-正向壓降差

VDRM-斷態(tài)重復(fù)峰值電壓

VGT-門極觸發(fā)電壓

VGD-門極不觸發(fā)電壓

VGFM-門極正向峰值電壓

VGRM-門極反向峰值電壓

VF（AV）-正向平均電壓

Vo-交流輸入電壓

VOM-最大輸出平均電壓

Vop-工作電壓

Vn-中心電壓

Vp-峰點電壓

VR-反向工作電壓（反向直流電壓）

VRM-反向峰值電壓（最高測試電壓）

V（BR）-擊穿電壓

Vth-閥電壓（門限電壓）

VRRM-反向重復(fù)峰值電壓（反向浪涌電壓）

VRWM-反向工作峰值電壓

V v-谷點電壓

Vz-穩(wěn)定電壓

△Vz-穩(wěn)壓范圍電壓增量

Vs-通向電壓（信號電壓）或穩(wěn)流管穩(wěn)定電流電壓

av-電壓溫度系數(shù)

Vk-膝點電壓（穩(wěn)流二極管）

VL-極限電壓

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